- Accesorios para máquinas de medición
- Racks de Sensores(50)
- Fijación de la pieza de trabajo
- Pallets y placas de sujeción
- (16)
- (3)
- (23)
- (2)
- (2)
- Táctil(22)
- Placas de sujeción(41)
- Componentes de los sistemas del kit(79)
- Táctil(78)
- (45)
- Medición de la temperatura(40)
- Calibrar y comprobar(61)
- Artefactos de Calibración(17)
- Difusor O-INSPECT(4)
Óptico
El sistema de palet ZEISS OMEGA está diseñado para los instrumentos de medición óptica ZEISS O-INSPECT, O-DETECT y O-SELECT. Los palés están disponibles con una superficie lisa, hecha de vidrio adecuado para mediciones de luz transmitida, o anodizado negro con rejillas de perforación adecuadas para sus propios diseños con diferentes tamaños de rosca.